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ZuE

Zum achten Mal fand die Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf” vom 21. September bis 23. September 2015 statt. Zur Fachtagung lud dieses Mal Professor Brück vom Lehrstuhl Mikrosystementwurf an die Universität Siegen ein. Diese wurde unter Beteiligung des Forschungskollegs Siegen (FoKoS), in der Weidenauer Straße 186 durchgeführt. Unterstützt haben die Tagung erneut die Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) der GMM/ITG/GI.

Der Schwerpunkt der Tagungsserie liegt auf in menschlichen Arbeitsabläufen und Alltagssituationen integrierten elektronischen Systemen. Die Gewährleistung ihrer Zuverlässigkeit, Robustheit sowie Sicherheit ist sowohl aus Sicht der Forschung als auch aus Sicht industrieller Praxis enorm wichtig.

Vertreter aus Industrie und Forschung diskutierten gemeinsam Themen von der Entwurfsmethodik über die Verifikation digitaler Systeme bis hin zu Testmethoden und der Diagnose. Außerdem erhielten die Teilnehmer Gelegenheit, während einer Podiumsdiskussion das Thema „Sicherheit beim vernetzten Automobil“ näher zu betrachten. Neben einer Reihe eingereichter wissenschaftlicher Beiträge präsentierten die Referenten Sven Peyer (IBM), Carl Friedrich Gethmann (Universität Siegen), Peter van Staa (Robert Bosch), Ralf Montino (Elmos), David Pan (Universität Texas) sowie Olaf Günnewig (SGS Institut Fresenius) vielfältige Aspekte dieser Thematik in eingeladenen Vorträgen.


Das Programm zu der an der Universität Siegen durchgeführten Tagung finden sie hier: ZuE2015_Programm