Mikrosystementwurf Test
Inhalt
Leider funktioniert die Herstellung heutiger komplexer integrierter Systeme nicht ganz fehlerfrei. Um sicher zu gehen, dass der Kunde ein funktionierendes System erhält, muss jedes System getestet werden. In dieser Vorlesung werden die Grundlagen zum Test von digitalen Systemen vermittelt.
Zunächst einmal werden die Ursachen von Fehlern diskutiert und die Auswirkungen, die diese Fehler haben. Daraus ableiten lassen sich Fehlermodelle, die von der Technologie abstrahieren und die Basis für Algorithmen für die Testerzeugung darstellen.
Auf Grund der Komplexität können heute Schaltungen nicht mehr als Ganzes vollständig getestet werden. Ein langer Weg war notwendig, um schrittweise die Testbarkeit zu verbessern (Design for Testability) , die Testmuster zu kompaktieren und systematisch Selbsttests einzubauen. Eine wesentliche Rolle beim Test spielen dabei die Standards, um Chips auf einem Bord (IEEE 1149.1) bzw. Module auf einem Chip (IEEE 1500) mit identischen Konzepten testen zu können.
Will man nicht nur feststellen, ob ein Fehler vorhanden ist, sondern auch die Ursache finden, so muss man genau feststellen, wo der Fehler auftritt und wann der Fehler auftritt. Nach dieser logischen Diagnose müssen dann Verfahren zur physikalischen Diagnose angewendet werden, um tatsächlich eine Fehler sichtbar zu machen.
Dozent
Zielgruppe
- Diplom Angewandte Informatik
- Diplom Elektrotechnik
- Master Informatik
- Master Elektrotechnik
Leistungspunkte
5
Prüfungsart
mündlich
Voraussetzungen (formal)
keine
Voraussetzungen (inhaltlich)
Rechnerarchitekturen I empfohlen